當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 植保保護(hù)提升工程儀器清單 > 農(nóng)業(yè)儀器 > TZS-II土壤水分測(cè)量?jī)x表層根系于產(chǎn)量關(guān)系
簡(jiǎn)要描述:從大量土壤水分測(cè)量?jī)x結(jié)果分析發(fā)現(xiàn),水稻根系分布比其他作物分布較淺,我們可以發(fā)現(xiàn)大量的根系分布在0-20cm淺層土層中。
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從大量土壤水分測(cè)量?jī)x結(jié)果分析發(fā)現(xiàn),水稻根系分布比其他作物分布較淺,我們可以發(fā)現(xiàn)大量的根系分布在0-20cm淺層土層中。水稻不同生長(zhǎng)期不同層次根系對(duì)生長(zhǎng)和產(chǎn)量的形成起不同作用,因此在水稻超高產(chǎn)育種和栽培中十分重視根系構(gòu)建。對(duì)不同層次根系的研究中,有人認(rèn)為深層根對(duì)高產(chǎn)形成很重要,有人認(rèn)為中后期形成的根系與水稻產(chǎn)量關(guān)系更密切,尤其是齊穗期。水稻根系生長(zhǎng)與活力和土壤水分狀況密切相關(guān),然而水稻水分狀況對(duì)表層根系影響研究尚少。
土壤水分測(cè)量?jī)x測(cè)得水分脅迫對(duì)水稻表層根的影響及表層根系對(duì)水稻產(chǎn)量的影響與品種有關(guān),本實(shí)驗(yàn)兩個(gè)品種輕度水分脅迫對(duì)水稻表層根系無(wú)明顯影響,重度水分脅迫不利于水稻表層根生長(zhǎng)。表層根量與產(chǎn)量相關(guān)性較高,但總體趨勢(shì)是輕度水分脅迫下表層根量多,產(chǎn)量高,重度水分脅迫使表層根量減少,其產(chǎn)量也減少。重度水分脅迫下,表層根量下降幅度大,產(chǎn)量下降幅度也大。穗分化期切根對(duì)產(chǎn)量的影響要大于開花期,這與切斷水稻深層根系的影響*。這可能與花后表層根系開始減少有關(guān),這也是生產(chǎn)中穗分化期不宜缺水的原因之一。
儀器型號(hào):TZS-II
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